保护装置通过采集实时遥测量，结合保护设定值来判断是否触发保护逻辑，从而实现对配用电线路的保护作用。因此，测量的精度直接影响保护功能的可靠性。
装置测量精度的优化需要先从影响精度的因素说起。
硬件方面，整个过程可简述为电流通过电流互感器后经过电流电压转换电路转换为电压。但由于电流为交流，因此得到的电压为交流电压。为了便于后续的MCU采集与处理，其经过一个抬高电压后变成一个正弦波形式的直流电压，最后通过一个运算放大器得到一个电压并被MCU的AD采样引脚采集。到达MCU的波形足够精准是装置测量高精度的基础。但在电路中，干扰是不可避免的，这就直接造成了MCU采样前的波形偏离实际波形，装置测量精度也因此大大降低。
而软件方面，MUC按照一定的频率采集电压，对采集到的值按照一定的算法得到模拟波形，经过运算得到结果。在这个过程中，算法优化如果不到位，就会造成模拟的波形与MCU采样的波形存在较大偏差，这也将导致精度的大大降低。
对于装置测量精度的优化亦可从软硬件两方面入手。总的来说，优化硬件方面的目的是使供给MUC采样的波形更贴近于保护装置采样的实际波形；优化软件部分的目的则是使经过算法模拟得到的波形更贴近于MCU采集到的波形。
硬件方面：
1、在采样电路中加入RC滤波器，过滤掉高频率的谐波，以此来达到贴近真实波形的目的。
经过滤波后得到较为平滑的波形如下图：
2、在满足采样量程要求的前提下可以通过增大电流电压转换电路中的电阻以充分利用MCU的AD采样的量程，这种方法便于后续MCU的分辨采样，使MCU采样得到的数据更贴近于真实波形数据。
软件方面：
1、通过程序更改设置MCU的采样频率，在一个波形周期里得到更多的采样数据，使算法模拟计算得到的波形更贴近于流经AD采样引脚的波形。
2、通过优化算法使MCU计算得到的模拟波形更贴近于流经AD采样引脚的波形，但此种方案难度较大且需与采样频率相互协调，达到优化的目的。
3、在得到最终数据前，数据采用浮点型参与各种运算更贴近于真实值，从而使其得到的精度更为准确，此种方法对于装置测量精度的优化是有一定效果的，但其效果往往不够显著。
综上所述，装置测量精度的优化与硬件电路和软件程序都有着密不可分的联系。优化装置采样精度的方法不计其数，但万变不离其宗，究其根本，终归都是使MCU根据数据模拟的波形更贴近于实际波形。
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